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1200 萬高像素專為滿足微距精確成像設(shè)計(jì)，大靶面，可配 IMX253LLR 芯片，系列倍率范圍在 0.03X-0.8X，超低畸變<0.05%，高對比度，低失真。主要應(yīng)用于檢測鋼板上的瑕疵污點(diǎn)、檢測微小芯片個數(shù)&刻印不良、檢測電機(jī)線的捆綁不良和陰險斷裂等。
| 品牌 | 產(chǎn)品名稱 | 兼容靶面 | 鏡頭類型 | 調(diào)焦類型 | 鏡頭接口 | 焦距 | 操作 |
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