
FPGA+ARM+GPU相結(jié)合,實(shí)用行頻提升2倍,提速不降檢測(cè)能力,實(shí)現(xiàn)30um針孔100%檢出,滿足隔膜極致安全要求。

高速頻閃光源,亮度差提升4倍,穩(wěn)定檢出>10DN的缺陷,提升一倍檢測(cè)能力;單卷超10萬+缺陷不卡頓。

依托LusterLVM視覺大模型,實(shí)現(xiàn)隔膜缺陷精細(xì)分類,支持30+類缺陷分類,平均分類準(zhǔn)確率大于99%。

自動(dòng)判定成品卷等級(jí),無需人工介入,準(zhǔn)確率>99.9%;缺陷數(shù)據(jù)自動(dòng)分析和統(tǒng)計(jì),實(shí)現(xiàn)質(zhì)量追溯和工藝改善。